<< Nazaj na iskalnik opreme

konfokalni mikroskop

Leto nabave: 2011
Lokacija: Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)
Spletna stran: https://www.nanocenter.si/index.php?page=alias
Skrbnik: Tina Zavašnik Bergant

Dostop:

prvi dostop glede na dogovor s skrbnikom, izučeni operaterji dostopajo prek rezervacijskega sistema

Namembnost:

Opremo sestavlja invertni popolnoma motoriziran raziskovalni fluorescenčni mikroskop s konfokalno skenirno glavo in enofotonskim vzbujanjem, opremljen z virom bele laserske svetlobe (t. j. z nastavljivim laserskim virom svetlobes pomočjo AOTF), ki omogoča laserske linije v vidnem delu spektra svetlobe (od 470 nm do 670 nm) s poljubnimi nastavitvami več laserskih linij in simultano uporabo le-teh (do 8 hkrati) v konfokalni mikroskopiji, z diodnim laserjem za vzbujanje v bližnji UV svetlobi, akustooptičnim delilcem žarka (AOBS), resonančnim in konvencionalnim skenerjem ter tremi visoko občutljivimi spektralnimi detektorji (fotopomnoževalka ( PMT) indva hibridna detektorja (HyD)).

Elipsometer

Leto nabave: 2011
Lokacija: Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)
Spletna stran: https://www.nanocenter.si/index.php?page=alias
Skrbnik: Martin Čopič

Dostop:

prvi dostop glede na dogovor s skrbnikom, izučeni operaterji dostopajo prek rezervacijskega sistema

Namembnost:

Optična elipsometrija je nedestruktivna tehnika, ki se uporablja za raziskave površin, mejnih plasti in tankih filmov. Osnovni princip elipsometrije je merjenje sprememb polarizacije svetlobnega žarka, ki se odbije od vzorca. Odbito svetlobo zajemamo s pomočjo mikroskopskih objektivov, kar v kombinaciji s prostorsko razločeno detekcijo signala (slikanje) zmanjša velikost preiskovane površine na območje mikrometrov. Objektivi imajo ekstremno dolgo delovno razdaljo, kar omogoča analizo površin makroskopskih objektov. Dobimo povečano sliko vzorca v odbiti svetlobi po prehodu skozi set polarizacijskih optičnih elementov. Sliko zajemamo s pomočjo CCD kamere z nastavljivimi časi zaklopa in ojačanja intenzitete. Lateralna ločljivost sistema je 1 ?m, kar omogoča izvajanje elipsometričnih meritev na mikrostrukturiranih  vzorcih. Možna je sprotna analiza večih izbranih območij hkrati.

4-sondni UHV STM/SEM mikroskopski sistem

Leto nabave: 2014
Lokacija: Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)
Spletna stran: https://www.nanocenter.si/index.php?page=alias
Skrbnik: Jure Strle

Dostop:

prvi dostop glede na dogovor s skrbnikom, izučeni operaterji dostopajo prek rezervacijskega sistema

Namembnost:

Mikroskopski sistem na enem samem odru združuje 4 sonde, ki so vsaka zase tipalo vrstičnega tunelskega mikroskopa. Oder je postavljen v komoro z ultravisokim vakuumom, temperature pa segajo od 50 K do 500 K. Atomska ločljivost sond omogoča, da lahko nanostrukture razločimo izjemno natančno in sonde pozicioniramo na željena mesta na njih. Sistem tako omogoča precizno izvajane 4-točkovne meritve elektronskega transporta in manipuliranja nanostruktur. Za popoln nadzor štirih sond se nad komoro nahaja stolp visokoločljivega vrstičnega elektronskega mikroskopa, ki s sposobnostjo kemijskega mapiranja tudi dopolni zmogljivost karakerizacije preiskovanih materialov. Tako tunelska mikroskopija kot tudi elektronska mikroskopija pri nizkih tokovih sta nedestruktivni mikroskopski tehniki.

Sondažna postaja z možnostjo meritev pri nizki temperaturi

Leto nabave: 2010
Lokacija: Center odličnosti nanoznanosti in nanotehnologije (CO NIN)
Spletna stran: https://www.nanocenter.si/index.php?page=alias
Skrbnik: Jure Strle

Dostop:

prvi dostop glede na dogovor s skrbnikom, izučeni operaterji dostopajo prek rezervacijskega sistema

Namembnost:

4-sondna merilna postaja za meritve električnih lastnosti v temperaturnem razponu 4K – 400K. Vsako izmed štirih sond premikamo v treh prostostnih stopnjah z mikrometrskimi vijaki. Kot sonde uporabljamo tanke igle, ki so zaključene s krivinskimi radiji 3um – 25um, in so povezane na triaksialni
izhod, na katerega lahko priključimo merilne instrumente. Za hlajenje se uporablja kriogen, s tekočim dušikom lahko delamo do 70K, s tekočim helijem, ki si ga je potrebno predhodno zagotoviti, pa sežemo do 4K.

Atritorski mlin

Leto nabave: 2012
Lokacija: Center odličnosti NAMASTE, zavod za raziskave in razvoj naprednih nekovinskih materialov s tehnologijami prihodnosti
Spletna stran: LINK
Skrbnik: Barbara Malič

Dostop:

Oprema je na razpolago v dogovoru z operaterjem in skladno z rezervacijskim sistemom (glej: www. conamaste.si). Zaračunavajo se materialni stroški in stroški operaterja.

Namembnost:

Mlin za mletje oksidnih keramičnih prahov.

1 4 5 6 7 8 130