<< Nazaj na iskalnik opreme

Sistem za lasersko mikrostrukturiranje in analizo tankoplastnih struktur

Leto nabave: 2011
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Martin Čopič

Dostop:

Oprema je dosegljiva po dogovoru s skrbnikom

Namembnost:

Hitra prototipna izdelava natančnih mikrostrukur s pomočjo direktne laserske fotolitografije. Karakterizacija tankoplastnih struktur.

Sistem za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm

Leto nabave: 2008
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Milena Horvat

Dostop:

Po dogovoru; materialni stroški + ure operaterja

Namembnost:

Uporablja se za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm v vzorcih zraka.

Sistem za fluorescenčno mikrospektroskopijo

Leto nabave: 2007
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Janez Štrancar

Dostop:

Možnost meritev po ceniku IJS, možnost brezplačne uporabe v primeru izvajanja skupnih RR projektov

Namembnost:

Oprema je namenjena raziskovanju celic in interakcij v bioloških sistemih s pomočjo fluorescenčne konfokalne mikrospektroskopije in omogoča zajem fluorescenčnega emisijskega spektra (spektralna ločljivost nekaj nm) znotraj posameznih slikovnih elementov 3D slike ločljivosti 180 nm x 180 nm x 450 nm s časovno ločljivostjo 10 ms. Za raziskave ni potrebna fiksacija biološkega materiala, ker sistem omogoča tudi in-vitro poskuse na vitalnih celičnih linijah direktno v gojilnih posodah z ultra-tankim dnom.

Sistem za ekscitacijsko spektroskopijo neravnovesnih pojavov

Leto nabave: 2008
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Dragan Mihailović

Dostop:

Oprema je dosegljiva po dogovoru s skrbnikom. Dodatni podatki o skrbnikih opreme na razpolago na RO

Namembnost:

Razširitev območja dosegljivih experimentalnih parametrov pri ekscitacijski spektroskopiji neravnovesnih pojavov in uvedba novih metod za analizo neravnovesnih sprememb elektronskih stanj in strukture z izboljšano površinsko občutljivostjo.

Sistem za čiščenje substratov

Leto nabave: 2007
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Janez Pirš

Dostop:

Dostop dovoljen po dogovoru, ni posebnih omejitev

Namembnost:

Oprema omogoča pripravo ultračistih površin za nanos tankih prevlek mehkih in trdnih snovi, predvsem tekočih kristalov.

1 89 90 91 92 93 130