Sistem za lasersko mikrostrukturiranje in analizo tankoplastnih struktur
Leto nabave: 2011
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Martin Čopič
Dostop: Oprema je dosegljiva po dogovoru s skrbnikom
Namembnost: Hitra prototipna izdelava natančnih mikrostrukur s pomočjo direktne laserske fotolitografije. Karakterizacija tankoplastnih struktur.
Sistem za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm
Leto nabave: 2008
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Milena Horvat
Dostop: Po dogovoru; materialni stroški + ure operaterja
Namembnost: Uporablja se za karakterizacijo radioaktivnih aerosolov velikosti od 2 do 400 nm v vzorcih zraka.
Sistem za fluorescenčno mikrospektroskopijo
Leto nabave: 2007
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Janez Štrancar
Dostop: Možnost meritev po ceniku IJS, možnost brezplačne uporabe v primeru izvajanja skupnih RR projektov
Namembnost: Oprema je namenjena raziskovanju celic in interakcij v bioloških sistemih s pomočjo fluorescenčne konfokalne mikrospektroskopije in omogoča zajem fluorescenčnega emisijskega spektra (spektralna ločljivost nekaj nm) znotraj posameznih slikovnih elementov 3D slike ločljivosti 180 nm x 180 nm x 450 nm s časovno ločljivostjo 10 ms. Za raziskave ni potrebna fiksacija biološkega materiala, ker sistem omogoča tudi in-vitro poskuse na vitalnih celičnih linijah direktno v gojilnih posodah z ultra-tankim dnom.
Sistem za ekscitacijsko spektroskopijo neravnovesnih pojavov
Leto nabave: 2008
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Dragan Mihailović
Dostop: Oprema je dosegljiva po dogovoru s skrbnikom. Dodatni podatki o skrbnikih opreme na razpolago na RO
Namembnost: Razširitev območja dosegljivih experimentalnih parametrov pri ekscitacijski spektroskopiji neravnovesnih pojavov in uvedba novih metod za analizo neravnovesnih sprememb elektronskih stanj in strukture z izboljšano površinsko občutljivostjo.
Sistem za čiščenje substratov
Leto nabave: 2007
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Janez Pirš
Dostop: Dostop dovoljen po dogovoru, ni posebnih omejitev
Namembnost: Oprema omogoča pripravo ultračistih površin za nanos tankih prevlek mehkih in trdnih snovi, predvsem tekočih kristalov.