Tipalni mikroskop in risalnik s spremljajočo opremo
Leto nabave: 2004
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Dragan Mihailović
Dostop:Oprema je dosegljiva po dogovoru s skrbnikom
Namembnost:Slikanje topografije površine in manipulacije nanostruktur ter sistem za risanje vezij s pomočjo elektronske litografije.
Večnamenski raziskovalni robot
Leto nabave: 2002
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Leon Žlajpah
Dostop:Robota zaradi kompleksnosti upravljanja in s tem povezane nevarnosti poškodb opreme ne posojamo. Po predhodnem dogovoru se lahko pri nas izvajajo eksperimenti, ki jih sami pripravimo. Delo se zaračunava po ceniku IJS.
Namembnost:Univerzalni robot, 7 stopenj, nosilnost 10 Kg, frekvenca trajektorije do 700 Hz, regulacija sile na vrhu robota, integriran na mobilni ploščadi.
Vektorski mrežni analizator
Leto nabave: 2003
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Darja Lisjak
Dostop:Oprema je dostopna vsem raziskovalcem na osnovi znanstvene sodelave z RS 42.
Namembnost:Elektromagnetne meritve pri 0.04-40 GHz.
Visokoločljivi 500 MHz spectrometer na magnetno resonanco za trdno snov
Leto nabave: 2008
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Boštjan Zalar
Dostop:Možnost meritev po ceniku IJS, možnost brezplačne uporabe v primeru izvajanja skupnih RR projektov
Namembnost:Digitalni visokoločljivi spektrometer omogoča eno- in večddimenzionalne magnetoresonančne meritve lokalnih statičnih in dinamičnih lastnosti na molekularni in atomski skali v mehkih in trdnih snoveh, merjenje difuzijske konstante ter mikroslikanje z magnetno resonanco.
Nizko-energijska ionska erozija materialov
Leto nabave: 2002
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Miran Čeh
Dostop:Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Namembnost:Oprema je namenjena pripravi vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo (TEM). Nizka energija ionskega jedkanja omogoča pripravo vzorcev brez amorfne plasti na površini vzorca.