NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC
Leto nabave: 2015
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Sandi Cimerman
Dostop: Oprema je na voljo glede na proste kapacitete in ob predhodnem dogovoru preko naslova r4@ijs.si.
Namembnost: Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC
Leto nabave: 2015
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Sandi Cimerman
Dostop: Oprema je na voljo glede na proste kapacitete in ob predhodnem dogovoru preko naslova r4@ijs.si.
Namembnost: Računalniška gruča za izvajanje znanstvenih računskih simulacij. Hitra mrežna komunikacija med računskimi vozlišči omogoča dobro skaliranje večprocesnih izračunov. Oprema vsebuje 10 računskih vozlišč po 2 procesorja, vsak z 14 jedri in 256GB spomina.
NADGRADNJA GRUČE RAČUNALNIŠKI SISTEM HPC
Leto nabave: 2015
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Luka Snoj
Dostop: Oprema je na voljo na reaktorskem centru Instituta Jožef Stefan, na Odseku za reaktorsko fiziko. Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Luko Snoja.
Namembnost: Oprema je namenjena numerično intenzivnim računom. Oprema vsebuje računska vozlišča, vsako ima 2 procesorja, vsak s 14 jedri in 256GB spomina.
Zeta meter
Leto nabave: 2002
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Tomaž Kosmač
Dostop: Oprema je na voljo na Institutu Jožef Stefan, na Odseku za inženirsko keramiko
Namembnost: Oprema je namenjena merjenju zeta potenciala delcev v vodnih in nevodnih medijih v ombočju pH vrednosti od 1-14.
XPS spektrometer
Leto nabave: 2005
Lokacija: Institut "Jožef Stefan"
Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja
Skrbnik: Janez Kovač
Dostop: Uporaba je možna za zunanje uporabnike. Kontaktirati dr. Janeza Kovača.
Namembnost: Preiskava površin in tankih plasti z rentgensko fotoelektronsko spektroskopijo – XPS (ESCA). Spektrometer XPS omogoča kvantitativno analizo sestave površine in določitev valenčnega stanja, oziroma tipa kemijske vezi v plasti debeline 3 – 5 nm. Vzorci so lahko kovinski, oksidni, kompozitni, praškasti, keramični, polimerni… Možna je preiskava porazdelitve elementov po globini vzorca v smeri od površine proti notranjosti do globine okoli 200 nm.
