Leto nabave: 2005 Lokacija: Institut "Jožef Stefan" Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja Skrbnik: Maja Remškar
Dostop:Dostop dovoljen po dogovoru, ni posebnih omejitev
Namembnost:Fizika površin.
Leto nabave: 2008 Lokacija: Institut "Jožef Stefan" Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja Skrbnik: Miran Čeh
Dostop:Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Namembnost:Oprema je namenjena mikrostrukturni karakterizaciji materialov. Gre za vrhunsko aparaturo, ki omogoča slikovne ločljivosti nekaj nm, kvalitativno in kvantitativno kemijsko analizo z mikronskega področja z metodama EDXS in WDXS ter elektronsko litografijo.
Leto nabave: 2007 Lokacija: Institut "Jožef Stefan" Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja Skrbnik: Goran Dražić
Dostop:Opremo uporabljajo šolani operaterji, ki lahko analize izvajajo tudi za druge raziskovalne organizacije. Cena je odvisna od zahtevnosti analiz.
Namembnost:Optični mikroskop je namenjen opazovanju in slikanju vzorcev s pomočjo vidne.
Leto nabave: 2016 Lokacija: Institut "Jožef Stefan" Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja Skrbnik: Miha Čekada
Dostop:Po predhodnem dogovoru na naslov miha.cekada@ijs.si. Brez posebnih časovnih omejitev
Namembnost:Namenjen je opazovanju in slikanju velikih vzorcev kompliciranih geometrij pri srednje veliki povečavi (35x-350x). Največja višina vzorca je 120 mm, največja masa pa 4 kg.
Leto nabave: 2016 Lokacija: Institut "Jožef Stefan" Spletna stran: https://www.ijs.si/ijsw/Informacije%20javnega%20zna%C4%8Daja Skrbnik: Miha Butinar
Dostop:po predhodnem dogovoru na naslov miha.butinar@ijs.si. Zaradi narave poskusov je potrebno računati na 1 teden zamika.
Namembnost:Namenjen je računalniško vodenem tomografskemu 3D rentegenskem slikanju miši in podgan (CT slikanje). Omogoča longitudinalne študije zaradi nizkih energijskih vrednosti rentgenskih žarkov.